平板探測器是醫用DR設備的一個核心部件，它的性能很大程度上決定了圖像質量的好壞。如今市面上平板探測器的品牌和型號眾多，而在挑選dr平板探測器時應該關注哪些參數呢?下面這些dr平板探測器的主要參數，是你應該要知曉的。
一、首先要關注的是參數是像素尺寸，它是指成像有效區域長度與像素數之比，或表示為相鄰像素的中心距離。像素尺寸又包括以下幾個細分項：
(1)分辨率：兩個相鄰細節間最小距離的分辨能力。
(2)系統分辨率：在無被檢工件的情況下，當透照幾何放大倍數接近于1時，檢測系統所能分辨的單位長度上兩個相鄰細節間最小距離的能力。反映了檢測系統本身的特性，也稱為 系統基本空間分辨率。
(3)圖像分辨率：檢測系統所能分辨的被檢工件圖像中單位長度上兩個相鄰細節間最小距離的能力，也被稱為空間分辨率。
(4)極限分辨率：在無物理(幾何)放大的條件下，檢測系統的最大分辨率。
像素尺寸太小，會增加圖像噪聲;像素尺寸太大，會降低圖像分辨率。所以在選擇探測器像素尺寸時要根據具體的檢測需求選擇，不能過分追求小像素尺寸的探測器。
目前市面上有一款型號為PLX8600的平板動態DR，它配備的就是17″×34″的大尺寸平板探測器。相較于多張拍攝再軟件拼接的DR設備，PLX8600解決了拼接圖像存在密度不均勻，拼接處圖像配準和放大效應等問題，給臨床帶來了真正的大視野影像解決方案，高清畫質，精準成像不失真，可一次性覆蓋全脊柱或雙下肢影像。
除此之外，PLX8600平板動態DR的攝影速度快，且單次攝影輻射劑量是常規多張攝影再軟件拼接DR的1/2或1/3，低劑量給患者更多關愛。
二、其次要明確dr平板探測器的閃爍體類型，目前工業上常見的非晶硅閃爍體涂層材料有兩種碘化銫、硫氧化釓。
碘化銫將X線轉換成可見光的能力比硫氧化釓強但成本比較高;將碘化銫加工成柱狀結構，可以進一步提高捕獲X線的能力，并減少散射光。使用硫氧化釓做涂層的探測器成像速度快，性能穩定，成本較低，但是轉換效率不如碘化銫涂層高。
三、然后是dr平板探測器的動態范圍，它是指探測器可以精確測量射線強度的范圍。
動態范圍計算公式：D=Vs/Vn 動態范圍用分貝表示公式：D=20lg(Vs/Vn) D探測器動態范圍 Vs探測器輸出最大信號 Vn電子噪聲 動態范圍越大，說明在被檢工件厚薄差異較大的情況下仍然能夠得到良好的對比度靈敏度。
四、靈敏度：探測器輸出可檢測信號時所需要的最少輸入信號強度。
非晶硅探測器的靈敏度由四個方面的因素決定：X射線吸收率，X射線-可見光轉換系數，填充系數和光電二極管可見光-電子轉換系數。 通常用X射線靈敏度S表示。 如可標注某探測器X射線靈敏度S為：S～1000e-/nGy/pel DN-5 Beam 表示該探測器在標準DN-5 X射線下每nGy在單個像素上產生的電荷數為1000個。 由于X射線靈敏度S與線質有關通常同時給出線質標準如：DN-5 Beam 探測器靈敏度精度越高越好，好的探測器靈敏度能達到1個光子。
五、調制傳遞函數MTF：為探測器對比度空間頻率轉移函數，通常用來表示探測器對于圖像細節的分辨能力。
從理論上講探測器MTF越高越能真實地獲得圖像信息，完美的探測器MTF應為與空間頻率無關的水平直線，但實際上由于采樣效應的存在，這種觀點并不完全正確，這一點在關于探測器偽影及噪聲的分析中將得到體現。由此可見探測器的MTF值并非越高越好，如何選擇適當的MTF分布是在探測器分析中需要仔細考慮的問題。
六、量子探測效率DQE：定義為輸出信噪比的平方與輸入信噪比的平方之比通常用百分數來表示。
探測器的DQE定義式如下： DQE= (Sout/Nout) /(Sin/Nin) 大致上可以這么認為：當系統DQE較高時，可以用較低的劑量獲得相同的圖像質量;或者用相同的劑量獲得較高的圖像質量。隨著數字圖像后處理技術的發展人們已經可以通 過 適當的算法來提升圖像的對比度及邊緣銳利程度，從而達到改善圖像效果的目的。但卻不能改善制約成像質量的另外兩個因素：噪聲(特別是進入圖像信號頻域的噪聲)及偽影。 這 兩者更多的取決于圖像系統探測器本身。
七、其他特性：
噪聲：非輸入信號造成的輸出信號。噪聲的主要來源：探測器的電子噪聲、射線圖像量子噪聲。
信噪比：探測器獲得圖像信號平均值與圖像信號標準偏差之比，用SNR表示。信噪比越高，圖像質量越好。
歸一化信噪比：比較不同探測器的信噪比，必須在同樣的探測器單元尺寸下進行。計算公式：SNRn=SNRm×88.6/P SNRn歸一化信噪比，SNRm測量信噪比，P探測器像素尺寸(um)。
線性度:是探測器產生的信號在最大劑量射線強度范圍內與入射強度成正比的能力。
穩定性：是隨著工作時間的增加探測器處理信號產生一致性的能力，線性度和穩定性直接影響探測器精度。
響應時間：是探測器從接收射線光子到獲得穩定的探測器信號所需要的時間，它是影響獨立采樣的速率及數據質量的關鍵。由探測器預備時間，曝光等待時間，曝光窗口，圖像讀出時間四部分構成。
記憶效應：表示圖像殘留的參數，通常用兩個參量來表示殘留因子的變化。一次曝光20S后探測器短期記憶效應(Short-term memory effect 20s) 如：0.1% 一次曝光60S后探測器短期記憶效應(Short-term memory effect 60s) 如：0.02%。
